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NOR闪存 S29GL256S10DHB023 高性能 Parallel NOR Flash 存储器

明佳达电子原厂原装供应NOR闪存 S29GL256S10DHB023 高性能 Parallel NOR Flash 存储器,采用64引脚FBGA封装。

 

器件说明

英飞凌 S29GL256S10DHB023 是采用 65 纳米工艺技术制造的 MirrorBit® Eclipse 闪存产品。这些器件的快速页面访问时间快达 15 ns,相应的随机访问时间快达 90 ns。这些器件具有一个写入缓冲器,允许在一次操作中最多编程 256 个字/512 个字节,从而使有效编程时间比标准编程算法更快。因此,这些器件非常适合当今需要更高密度、更高性能和更低功耗的嵌入式应用。

 

产品规格

存储容量:256Mbit(32MB)

接口类型:并行接口(Parallel),支持3V/3.3V

封装形式:64引脚FBGA(9x9 mm),表面贴装

工作温度范围:-40°C至105°C,符合汽车级AEC-Q100标准

读取速度:100ns

 

独特的特性

 CMOS 3.0 伏内核与多功能 I/O

 65 纳米 MirrorBit Eclipse 技术

 用于读取/编程/擦除的单电源 (VCC) (2.7V 至 3.6V)

 多功能 I/O 特性

- 宽 I/O 电压范围 (VIO): 1.65V 至 VCC

 x16 数据总线

 异步 32 字节页面读取

 512 字节编程缓冲器

- 以页面倍数编程,最大可达 512 字节

 单字和同一字上多个程序选项

 自动错误检查和纠正 (ECC) - 具有单位错误纠正功能的内部硬件 ECC

 扇区擦除

- 统一的 128 字节扇区

 用于编程和擦除操作的暂停和恢复命令

 状态寄存器、数据轮询和就绪/忙引脚方法确定设备状态

 高级扇区保护 (ASP)

- 每个扇区的易失性和非易失性保护方法

 独立的 1024 字节一次性编程 (OTP) 阵列,有两个可锁定区域

 通用闪存接口 (CFI) 参数表

 温度范围/等级

- 工业级(-40°C 至 +85°C)

- 工业级(-40°C 至 +105°C)

- 汽车,AEC-Q100 3 级(-40°C 至 +85°C)

- 汽车,AEC-Q100 2 级(-40°C 至 +105°C)

 100,000 次编程/擦除循环

 20 年数据保存期

 封装

- 64 球 LAE 加固 BGA,9 毫米 x 9 毫米

 

如有需求,请联系陈先生:

QQ:1668527835

电话:13410018555

邮箱:chen13410018555@163.com

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点击数:0 | 更新时间:2025-02-14 14:53:20
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