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供应 TSMU818A030AMO DAC—— 8 通道、18 位、30V、100mA 输出、高电容驱动参数测量单元 (PMU)

 TSMU818A030AMO是一款高性能、高度集成的8通道18位、30V、100mA输出的高电容驱动参数测量单元(PMU)‌。

其主要特性包括:

8 通道四象限 PMU

FV、FI、FZ(高阻态)、MV 和 MI 功能

可编程电流范围

内部 ±5µA、±40µA、±200µA、±2mA 范围

使用外部 RSENSE 时高达 ±100mA

30V FV 范围和不对称范围选择

在高达 10µF CLOAD 的条件下稳定运行

通道独立的 DAC

具有多个电压范围的 18 位强制 DAC

16 位偏移和电压钳位 DAC

15 位电流钳位 DAC

偏移误差和增益误差校准,具有真正的 18 位端点性能

双配置状态数字架构

快速电流钳位

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TSMU818A030AMO是一款高性能、高度集成的参数测量 单元 (PMU),由 eight 独立通道组成。每个通道包括一 个电压输出 DAC(用于设置强制电压放大器的可编程 输入电平)和两个钳位输入 DAC。提供五个基于电阻的可编程力和测量电流范围,范围从 ±5µA 到 ±100mA 不等,其中四个范围使用片上检测电阻。

 

eight 通道的测量可在线或配置中进行多路复用,因此无需外部多路复用器。此外,TSMU818A030AMO还提供相应通道的单独测量输出。通过一个与 SPI 兼容的简单串行接口,即可控制这些 PMU 功能。80MHz 的接口时钟允许通过双态双缓冲架构进行快速模式更新和状态更改。配置寄存器允许用户轻松更改强制或测量条件、DAC 电平和选 定的电流范围。

 

应用场景

TSMU818A030AMO适用于多种应用场景,包括:

内存测试‌:用于测试存储设备的电气特性。

半导体测试‌:评估半导体器件的性能参数。

源测量单元‌:在多路复用或单独测量中进行精确的源和测量操作‌。

 

关键参数

分辨率:18 bit

通道数量:8 Channel

输出类型:Current Buffered, Voltage Buffered

接口类型:SPI

最小工作温度:0 C

最大工作温度:+ 100 C

封装 / 箱体:FCBGA-196

INL - 积分非线性:4 LSB

 

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点击数:0 | 更新时间:2025-06-21 17:32:12
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